项目简介

       半导体的物理特性是由它的能带结构、载流子类型、导电机理和掺杂效应决定的。这些特性决定了半导体的导电性、光敏性、热敏性等，也影响了半导体器件的工作原理和性能。海怀检测实验室具备强大的理化分析测试能力，为半导体材料提供全方位物理特性检测。
       
       常用检测方法

       矢量网络 (VNA)、振动样品磁强计 (VSM)、介电性能测试、铁电性能测试、综合物性测量系统( PPMS / MPMS / SQUID - VSM）、霍尔效应 (HALL)、压电性能测试、磁学特性测量、塞贝克系数 (Seebeck)、PPMS-电阻率测试、四探针电阻率测试、低阻-电阻率测试(万用表/静电计)、雾度及透光率测试、电化学测试、表面光电压谱仪测试、红外发射率测试、气敏性能测试、光催化分解水、软磁性能测试、高阻-电阻率测试(高阻计)、太赫兹测试等。

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