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半导体
可靠性验证
高加速寿命试验
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       项目简介

       HALT是利用步进应力去加速发现设计的缺陷或是薄弱点的一套方法。在HALT测试中,所有施加的应力并不是想要模拟产品应用的环境,而是通过步进的应力去激发产品更早地的发生失效。对施加的应力的类型和量级不设置限制,只要能尽快地促使失效发生。同时,在试验时间上与实际应用相比,压缩了几个数量级,并减少测试样品的需求,有效地减少测试时间和降低设计成本。让投入市场的时间成比例缩短的同时,也大大提高了产品的可靠性和耐久性。
 

       HALT的作用

       (1) 快速发现产品设计、制程上的薄弱点。
       (2) 帮助提高产品设计的欲度。
       (3) 有效地提高产品的可靠性。
       (4) 节省设计时间和费用。
       (5) 帮助排除产品设计的问题。
       (6) 帮助评估产品设计的变更。
 

       测试项目

       低温步进测试、高温步进测试、温度循环测试、振动步进测试、温度循环和随机振动组合测试
 

       HALT测试流程

       理想的高加速寿命试验,是为了尽可能发现产品设计中的薄弱点。通过对发现的失效不断地进行分析、改进、优化,来提高产品的工作极限或是破坏极限。
 

 

 
 


advantage
海怀优势

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