项目简介

       椭圆偏振主要用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构，通过精确测量薄膜样品的椭偏参数,经过后期数学处理、模拟和拟合，从而推导出多层结构、均匀和非均匀结构的厚度、光学常数（折射率，消光系数）、组分以及其他相关参数。

       结果展示

       可得到膜厚及n，k曲线

       

       常见问题

       1. 椭偏仪可以测量哪些参数？
       利用椭偏仪测量薄膜参数，测量得到是的反射光的偏振状态（振幅和相位）通过软件建立一定的模型，膜厚，折射率，消光系数等参数时一并可以得到；

​​​​​​​       2. 椭偏仪适用于哪些材料的测试？
​​​​​​​       椭偏仪适用于无机材料，样品有一定透光性。