广角X射线散射(Wide-Angle X-ray Scattering，WAXS)是一种使用X射线来研究材料短程有序性和晶体结构的技术。与小角散射(SAS)相比，WAXS探测的是更大的散射角度，这使得它能够提供关于原子或分子水平上结构信息的洞察，例如晶格常数、晶粒尺寸、结晶度以及可能存在的缺陷。 　　WAXS的主要应用包括：
　　晶体结构分析：WAXS能够识别出晶体的晶型，比如立方、六方、正交等，并且可以给出晶格参数。
　　相鉴定：通过与标准数据库中的衍射图谱进行比较，可以鉴定样品中存在的不同相或化合物。
　　晶粒尺寸和微观应变的测定：利用谢乐公式(Scherrer equation)可以估计晶粒大小，而通过观察峰宽的变化可以推断出微观应变的存在。
　　无定形材料的短程有序性：对于无定形或非晶态材料，WAXS可以揭示原子间局部的排列规则。
　　聚合物的结晶度和取向：在聚合物科学中，WAXS可以用来评估聚合物链的取向和结晶程度。
　　表面和界面的结构：在特定条件下，WAXS也可以用来研究薄膜、涂层或界面的结构特性。
　　WAXS测量通常会生成一个二维或一维的散射强度分布图，其中散射矢量q的模值(q = 4πsin(θ)/λ，其中θ是布拉格角，λ是X射线波长)与散射强度I(q)的关系被记录下来。通过对这些数据的分析，科学家可以解析出样品的结构细节。